Skip to Content

Instrukcja korzystania z Biblioteki

Serwisy:

Ukryty Internet | Wyszukiwarki specjalistyczne tekstów i źródeł naukowych | Translatory online | Encyklopedie i słowniki online

Translator:

Kosmos
Astronomia Astrofizyka
Inne

Kultura
Sztuka dawna i współczesna, muzea i kolekcje

Metoda
Metodologia nauk, Matematyka, Filozofia, Miary i wagi, Pomiary

Materia
Substancje, reakcje, energia
Fizyka, chemia i inżynieria materiałowa

Człowiek
Antropologia kulturowa Socjologia Psychologia Zdrowie i medycyna

Wizje
Przewidywania Kosmologia Religie Ideologia Polityka

Ziemia
Geologia, geofizyka, geochemia, środowisko przyrodnicze

Życie
Biologia, biologia molekularna i genetyka

Cyberprzestrzeń
Technologia cyberprzestrzeni, cyberkultura, media i komunikacja

Działalność
Wiadomości | Gospodarka, biznes, zarządzanie, ekonomia

Technologie
Budownictwo, energetyka, transport, wytwarzanie, technologie informacyjne

Radiation Hardness Test of BJTs under Designated Application

Performance and properties of bipolar junction transistor (BJT) devices are affected due to the harsh radiation environment. This report reviews the typical effects occurring in BJT devices due to irradiation with x-rays. The defect parameters on the device tested is obtained by in situ experimental technique. In order to study the self-annealing behaviour in BJTS due to ionizing and displacement modifications, damage efficiencies at different bias current levels are compared. The study reveals that higher gain degradation dispersion occurs at lower bias current level. Damage creation in the BJTs is dominated by the excitation mechanism of valence electron to the conduction band. This leads to the production of a large number of excited atoms and increases the holes in the valence band. The increase of holes in the base region due to trapping will increase the probability of recombination and reducing the number of electrons that reaches the collector region.  

Journal of Computers 2014/08/15 - 13:03 Czytaj